easy test generation
英 [ˈiːzi test ˌdʒenəˈreɪʃn]
美 [ˈiːzi test ˌdʒenəˈreɪʃn]
【计】容易产生测试
双语例句
- ETG ( Easy Test Generation) Circuits
容易产生测试的电路 - A PLA with easy test generation
一种容易产生测试的可编程序逻辑阵列
美 [ˈiːzi test ˌdʒenəˈreɪʃn]
【计】容易产生测试